詳情介紹

 時(shí)代漆膜測(cè)厚儀可對(duì)測(cè)頭進(jìn)行基本校準(zhǔn)，TT220時(shí)代漆膜測(cè)厚儀采用了磁性測(cè)厚法，是一種超小型測(cè)量?jī)x，時(shí)代漆膜測(cè)厚儀能快速、無(wú) 損傷、精頦地進(jìn)行鐵磁性金屬基體上的覆層厚度的測(cè)量。 時(shí)代漆膜測(cè)厚儀設(shè)有五個(gè)統(tǒng)計(jì)量：平均值（MEAN）、*大值（MAX）、*小值（MI N）、測(cè)試次數(shù)（NO）、標(biāo)準(zhǔn)偏差（S.DEV）。 可存貯和統(tǒng)計(jì)計(jì)算15個(gè)測(cè)量值。 時(shí)代漆膜測(cè)厚儀可廣泛用于 制造業(yè)、金屬加工業(yè)、化工業(yè)、商檢等檢 可進(jìn)行零點(diǎn)校準(zhǔn)及二點(diǎn)校準(zhǔn)。
時(shí)代漆膜測(cè)厚儀的測(cè)量原理是磁性法
測(cè)量范圍:1～1250μm
測(cè)量精度：±（3%H+1）μm（零點(diǎn)校準(zhǔn)） ±[(1～3)%H+1